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Tecniche di Test Innovative per la Caratterizzazione di Memorie a Gate Flottante

L’affidabilità nella ritenzione dei dati memorizzati è una delle problematiche fondamentali delle memorie flash; esse vengono normalmente testate, in produzione con procedure specifiche implementate su ATE (Automated Test Equipments), per rilevare problemi di lettura, programmazione e cancellazione; vengono inoltre provate altre procedure per identificare possibili faults e per il corretto trimming dei parametri interni. Oggi, il testing classico con ATE è supportato dalle tecniche BIST (Built-In-Self-Test), tramite le quali si prevede in progetto, all’interno dei circuiti integrati, una parte di hardware e software supplementari per permettere l’auto-test (funzionale e/o parametrico), così…

Performance evaluation of non volatile memories with a low cost and portable automatic test equipment

2017

This paper presents a versatile and portable test equipment, called portable ATE for research and development of non-volatile memories functionalities. The system is based on STM32-NUCLEO assembled with a custom designed daughter board, in order to host non-volatile memories test-chips, to manage the needed power supplies and generate suitable signals stimuli for correct operations. The system is controlled and programmed by a personal computer, via USB interface. In particular the system can perform: memory reading, writing and erasing, with settings flexibility on time and voltage levels; Electrical Stress Tests (Drain, Gate and Bulk Stress); Cycling Tests; debugging algorithms (erase or …